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Win win for you and me售前售中售后完整的服務體系
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簡要描述：現代射頻集成電路的設計調試和測試是另一項復雜的任務。 除了射頻輸入和輸出信號外，設備還需要無振蕩偏置以及數字控制信號（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需要通過為每個產品單獨配置的盡可能小的接觸墊傳送到集成電路?；诙嗄晟漕l探測技術實操經驗和深耕為滿足國產測試需求而研制,可N個觸點射頻探測技術，快速測試您的RF IC
產品型號：GCP40廠商性質：生產廠家更新時間：2024-12-27訪 問 量：302詳細介紹
優(yōu)勢說明：
自有的激光+水刀切割探針頭部技術
優(yōu)良的HFSS仿真技術
優(yōu)良的DC至110 GHz同軸提參技術
業(yè)內頂配的測量儀表+建模人員團隊
滿足工作溫度-55℃ ~ +125℃
可快速交付50、100、150、200和250µm的傾斜探頭
可選擇鈹銅或鎳合金材料（推薦鎳合金）
擁有超過110000次的老化實驗
可兼容多家校準片或使用GCC校準片
GCP射頻微波探針：
連接器接頭： 2.92mm母頭 針尖配置： GSG 針尖中心距：50~250um 針尖寬度： 28um 滑行距離： ≤30um | 探針頭示意圖
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jGCP40產品有多個型號和不同中心間距可以選擇，詳細選型請聯(lián)系我們。
我們的射頻探測技術，用于表征射頻集成電路。 間距從 50 μm 到 250μm，可滿足您的多種測試需求。 使用在線設計捕獲表單，根據您的集成電路焊盤布局選擇射頻信號 (S)、邏輯 (L) 和電源 (P) 通道，構建您的探針。
注：商用探針尖射頻校準標準采用共面設計，包括不同類型的校準元件：開路、短路、負載和線路。 因此，可以進行各種類型的探頭尖部校準
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