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現(xiàn)代射頻集成電路的設(shè)計(jì)調(diào)試和測(cè)試是另一項(xiàng)復(fù)雜的任務(wù)。 除了射頻輸入和輸出信號(hào)外，設(shè)備還需要無振蕩偏置以及數(shù)字控制信號(hào)（例如，用于改變放大器的增益）。所有這些都需要通過為每個(gè)產(chǎn)品單獨(dú)配置的盡可能小的接觸墊傳送到集成電路。基于多年射頻探測(cè)技術(shù)實(shí)操經(jīng)驗(yàn)和深耕，為滿足國(guó)產(chǎn)測(cè)試需求而研制，可N個(gè)觸點(diǎn)射頻探測(cè)技術(shù)，快速測(cè)試您的RF IC。
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